| 轴对称微分迁移率分析器与质谱仪或其他分析器和检测器之间的耦合 |
| US12597185 2008-4-21 发明申请 |
| 2010-8-26 |
| 微分迁移率分析(DMA)与质谱(MS)相结合的前期工作表明，如何将平面DMA的输出与大气压电离质谱仪的大气压入口(APCI-MS)耦合。 然而，由于APCI-MS仪器的离子入口是一个圆形孔口，而传统的DMA几何结构使用细长狭缝，两者的耦合比单独的DMA获得更小的分辨率或容忍更小的样品流速。 本发明通过使用多于两个电极的圆柱对称的轴向DMA克服了这些限制。 该构型与Labowsky和Fernández de La先前提出的构型有关。 Mora(2004，2006)，其中具有临界电迁移率的离子被引入DMA的对称轴。 具有这种临界迁移率的离子现在以比平面DMA高得多的分辨率最佳地传输到MS中。 在该便于DMA-MS耦合的DMA的优选实施例中，与对称轴相交的一个DMA电极是相对平坦的。 |
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