| 颗粒质量光谱仪用于检测纳米粒子和方法。 |
| WOEP04007415 2004-7-7 发明申请 |
| 2005-5-6 |
| 气载颗粒被除去从气溶胶通过一多级分子束源系统。在所述高真空部分所述粒子的质量光谱仪，所述粒子束飞行通过一个偏转电容器具有一个可变电场。所述带电粒子被分离的部分根据动能的极性和比能量和电荷。所述带电颗粒达到所述电荷检测器或电荷检测器，例如法拉第杯，和分别产生一电流或电压信号，它是按比例相乘，关系到所述捕获的图中，通过所述电荷图形。所述粒子速度为还测得的，使得所述测量数据可以被处理以形成一质量光谱。通过假设所述每个粒子和所述球面形状简单的电荷，该质谱可被转换成一个尺寸光谱。 |
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