| 矩阵辅助激光解吸\/电离时间--飞行质谱的目标用于所述样品分析，包括一矩阵辅助激光解吸\/电离时间--飞行的板，一烯层，和一金属层或硅层 |
| DE102010020933 2010-5-19 发明申请 |
| 2011-9-15 |
| TOF是揭示一种MALDImassenspektrometrietarget用于所述样品分析，其覆盖MALDITOF板和一个图形层所述MALDITOF板上施加。在另外一种TOFMALDI质量光谱仪是由可用，其中离子枪用于所生产的离子从analytenprobe，根据本发明所述目标到所述样品分析与所述MALDITOFmassenspektrometrie，一个光学系统用于所述的电离所述analytenprobe，其中所述MALDITOFmassenspektrometrietarget上被吸附剂用于所述用于所述分析的样品分析和一质量检测器所包含的所述离子的质量分布。 |
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