| 平行的质量分析 |
| GB1106398 2006-12-29 发明申请 |
| 2011-6-1 |
| 本发明是提供一种质量光谱测定法的方法和系统。用于每个的一个多个的质量分析装置110，120; 130&140，所述以下步骤被执行 : 离子从一个离子源被存储在一个离子的存储装置。一个各自的存储时间周期期间200，和离子被喷出的从所述的离子存储装置到一个各自的质量分析装置，所述质量分析装置被设置到分析所述各自的一个相应的分析时间周期期间喷出的离子。所述数量的质量分析装置包括所述多个的质量分析装置是基本等于或大于比该所分析的时间周期比到所述各自的存储时间周期。 |
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