| 质量分析仪 |
| JP2007141274 2007-5-29 发明申请 |
| 2008-12-11 |
| 要解决的问题 : 以消除该问题，即获得足够的ms2光谱是不因为所述的洗脱该组件有关的是所述ms2之前完成所述的顺序到来的信号中的低离子强度的分析在一种合适的峰值的情况下被自动选择所述的基础上获得质谱，以执行ms2分析作为前体离子。溶液 : 在所述质量分析仪，一个上限值UL表示的是沿与所述的下限值LL所述质量信号强度作为所述的峰值分类条件光谱。一数据处理部判断是否所述峰值强度的峰值出现在该期间得到的质谱LCM分析进入的强度范围A确定由所述上限值UL和下限值LL去除所述峰值不进入所述强度范围A和该剩余的峰值被设置到前体离子，用于例如，在所述强度的顺序来执行ms2分析。通过适当地设定所述上限值UL，一个高的强度的部件不需要用于ms2分析被以避免优先执行所述ms2一个组件中的低浓度的分析。版权 : (C)2009，inpit |
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