| 用于标识材料使用质谱分析方法 |
| JP2005141124 2005-5-13 发明授权 |
| 2011-12-21 |
| 本发明的目的是提供一种能够提高质谱分析系统获取的效率物质上的信息结构，缩短用于测量所花费的时间和物质识别，提高识别精度。该系统包括 : 离子化质量分析的方法分析物; 第一碎裂过程，其中第一离子选自离子质谱中观察到的片段它; 质量分析的过程第一中产生的多个离子碎裂法，确定过程的碎片离子组合可重构的使用的结果第一离子的质谱; 一种第二其中裂解过程的碎片离子中所含的碎片离子的组合是分段的，质量分析片段和过程第二中产生的离子碎裂。 |
微信公众号