| 用于质谱峰的列表计算使用并行处理技术 |
| WOUS11001029 2011-6-7 发明申请 |
| 2011-12-15 |
| 所描述的是用于处理数据的技术。样品的分析是执行产生扫描数据。每个扫描包括一组的每个关联数据元素的离子强度计数与多个的尺寸包括一保持时间尺寸和质量与电荷比的尺寸。所述扫描被分析以识别一个或多个离子峰。分析包括滤波第一多个所述扫描产生一个第一的多个经滤波的输出进行扫描。所述滤波包括第一滤波产生一第一过滤输出，其中第一滤波包括执行的多个在并行线程，其施加一个第一滤波器到第一多个扫描以产生第一的滤波输出。所述多个线程计算的每个的至少一个经滤波的输出点，用于至少一个对应的输入包含在所述多个扫描的点。分析包括使用所述滤波后输出扫描检测一个或多个峰。 |
微信公众号