激光解吸\/电离方法使用纳米线
 
KR1020100045117  2010-5-13  发明授权

2011-12-13
 
  本发明指的是使用纳米线的方法涉及激光解吸\/电离质谱分析仪,具体地,本发明根据质量分析仪设置垂直于衬底的方法,以满足2所述像素之间的关系的关系和1纳米线的多个的一种分析物以质量包括所述的步骤 : 定位一个样品,所述样品纳米线是在位置和用于所述样品是可拆卸的激光是入射在测试该样品的所述解吸\/电离是连接。以所述半导体层,质量分析。(关系1)0。8aXDPE
 
仿站