| 质量分析仪 |
| WOJP06304372 2006-3-7 发明申请 |
| 2007-9-13 |
| 本发明提供了一种电子冲击离子源在一个质量分析仪。所述条目的用于热电子的电场加速，由于在一热电子产生灯丝之间的电位的差(3)和一个电离室(2)，为该电离室(2)从一个电子入射口(5)可以避免通过将所述灯丝(3)在一较远的位置从该电离室(2)。根据上述结构，一种离子取出该电离室(2)内形成的电场通过该电压施加到一透镜电极(13)是未受干扰，和该电离室(2)内产生的离子可以被有效地取出和可被传送到所述电离室之后设置一个质量分析仪(2)。因此，信号强度在一个检测器可以被改进，和，因此，高-质量分析可以实现灵敏度。 |
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