| 质量 |
| JP2007530965 2006-8-10 发明申请 |
| 2009-3-26 |
| 该样品的一个二维区域15中，同时microobservation导电质谱分析，由该CCD摄像机23取同时观察该图像分析的样品15限定了所观察的位置和一个部分，该样品15中被与从所述激光照射的激光光照射单元20执行一质谱分析和一分离位置，将该样品15一阶段驱动机构30由一个级13所述分析观察位置和所述的位置与高精度之间的和可移动，因此，在所述的时间飞行的所述从所述样品发出的离子分析干扰或激光的聚光光学系统22不干扰和，一个用于观察光学系统24观察位置中可以接近到该样品15。因此，该离子检测而不降低效率，能够提高的一种空间观察者的分辨率。 |
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