| 四极质量分析 |
| WOJP10073736 2010-12-28 发明申请 |
| 2011-7-7 |
| 本发明提供一种四极质量分析装置能够增加的灵敏度(S\/N)通过降低所述杂散光的入射从一个一个检测器上的离子源。具体地公开了一种四极质量分析装置(100)提供与一个离子源(101)，一四极质谱仪(102)。其具有环形金属膜，和一个检测器(103)，其检测，作为一个信号，一个离子，其具有通过所述四极质谱仪。所述四极质谱仪是非线性的，和由于该非线性四极质谱仪，所述四极质谱仪是配置成使得所述检测器不能看到通过所述四极质谱仪从所述离子源。所述金属膜被形成在绝缘支持，并配合所述绝缘支持与每个其它的组装。 |
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