| 一质谱仪的操作方法 |
| IN2232CHENP2007 2007-5-23 发明授权 |
| 2011-9-9 |
| 本发明涉及一种质谱仪的操作方法，包括离子源，离子阱与多个细长电极中，碰撞室和飞行时间分析仪，所述方法包括 : 操作该离子源具有相对宽的范围内产生离子的m/z值；将所产生的离子通过离子源到离子阱；捕集离子引入从离子阱中的离子源，由喷射离子的离子阱在较窄m/z值范围基本上正交于相对于伸长方向所述电极同时保持其它用于随后分析的离子阱中的离子和/或碎片，使得喷出的离子行进到碰撞单元；将离子从离子阱中引入碰撞单元；弹出来自碰撞碎片离子电池，使得行进至该飞行时间质量分析器；andoperating的飞行时间质量分析器，得到的质谱离子的等离子体。(图1) |
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