产业专利数据
 
用于质谱分析的方法和装置
 
JP2006280273  2006-10-13  发明授权
2011-8-31
 
  要解决的问题 : 实现质量分析方法，可获取一个精密电荷到质量比m/Z的前体离子价和信息Z，和装置。方法 : 干涉峰质谱数据中包含的判断和干扰峰分离，利用光谱数据在过去。这使得采集的精密电荷到质比m/z和信息的化合价Z和选择的前体离子分析MS2。版权 : (C)2008，隆起部'
 
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