| 一种离子阱质谱分析方法 |
| US11889232 2007-8-10 发明申请 |
| 2008-3-6 |
| 按照本发明的一个方面，提供了一种使用质谱仪的离子阱质谱分析方法和离子阱质谱分析装置，该质谱仪包括 : 离子源部分，用于电离样品； 离子阱部分，用于俘获在离子源中产生的离子； 主高频电源，用于向离子阱部分施加主高频电压；以及辅助高频电源，用于向其施加辅助高频电压； 以及用于检测从离子阱射出的离子的检测器。 一种离子阱质谱分析方法和离子阱质谱分析装置，包括以下步骤 : 通过将不需要的离子喷射到离子阱部分中，同时将离子聚集到离子阱部分中，从而将需要的离子聚集到离子阱部分中； 以及交替地重复喷射残留在离子阱部分中的不希望的离子和残留在离子阱部分中的希望的离子。 |
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