| MALDI离子阱型质谱仪和光谱法 |
| JP2005003279 2005-1-11 发明申请 |
| 2006-7-27 |
| 要解决的问题 : 以提供一种方法和设备的配置，其质量盖的一较宽范围的尺寸，通过一个单个测量在所述MALDI离子阱型质谱仪。溶液 : 一个检验部件是与脉冲激光照射一次以上，同时之间的持续时间少的小改变所述MALDI部分中的脉冲激光的照射时间T0和时间T1的周期时，RF电压被施加以一环电极附着在所述离子阱部。随后，求和或加法平均是采取这种方式中获得的关于所得到的质谱。所述持续时间较短的时间t0和t1之间的是，所述多个通常该离子具有较小的质量\/电荷比往往被俘获到所述离子阱空间122。一种制造所述的方法通过移位一个时间测量大量的时间持续时间在这种方式，从而允许质量的质量光谱覆盖更宽的范围要获得尺寸。版权 : (C)2006，膜℃。 |
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