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时间--飞行质谱的表面的和光谱

WOUS10058369 2010-11-30 发明申请

2011-6-3

所描述的是一种分析方法和装置，用于计数并测量所述二次电子的飞行时间，二次离子和中性粒子，散射的离子和\/或中性粒子和用于将这些同时维持一连续的未脉冲之间的相位不一致，微聚焦，初级粒子光束用于撞击一个表面用于微探针成像和微量分析的目的。