| 平面差分迁移率分析器与质谱仪或其它分析器和检测器的耦合中的分辨率改进 |
| US11786688 2007-4-11 发明申请 |
| 2008-10-16 |
| 差分迁移率分析(DMA)与质谱(MS)相结合的先前工作已经显示了如何将DMA的输出与大气压电离质谱仪(APCI-MS)的入口耦合。 但是，到APCI-MS的常规离子入口是圆形孔口，而常规DMA几何结构利用细长狭缝。 具有这种不同对称性的两个系统的耦合在很大程度上限制了DMA在低于单独DMA值的DMA-MS组合中可获得的分辨率。 本发明的目的是克服在平行板DMA的情况下的这种限制。 一种解决方案涉及使用细长的而不是圆形的MS采样孔，其中MS入口孔的长尺寸与DMA狭缝的长尺寸对齐。 另一种包括在DMA出口中使用更长的孔和在MS入口上使用更圆的孔，两者通过短转移导管或通过离子引导件连接。 所描述的DMA也可以有利地耦合到除质谱仪之外的检测器和分析器。 |
微信公众号