飞行时间质谱仪
 
US10929770  2004-8-31  发明申请

2005-3-3
 
  在本发明的飞行时间质谱仪(TOF-MS)中,飞行控制器使离子在预定圈数的轨道上飞行,并且离子检测器检测飞行的每圈中的离子。 一种飞行时间测量器,在每一个转弯处测量相同质量/电荷比的离子的飞行时间长度,并且数据处理器构造飞行时间谱。 数据处理器进一步计算光谱的傅立叶变换,并基于傅立叶变换中出现的频率峰值来确定离子的质量电荷比。
 
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