| 离子阱/飞行时间质量分析装置和质量分析方法 |
| US11149263 2005-6-10 发明申请 |
| 2005-12-22 |
| “离子阱-TOF/MS”能够校准离子阱和TOF中的每一个的观测质量。 在离子阱-TOF/MS中，具有已知质量数并由离子源电离的样品离子被俘获在离子阱中。 具有频率分量的辅助AC电压被施加到离子阱的端盖电极，以将不需要的离子从离子阱中排出。 通过向环形电极和端盖电极施加直流电压以排出残留在离子阱中的离子，并通过飞行时间质谱仪测量排出的离子的质量数来执行测量过程。 在改变频率分量w的同时重复测量过程，并且将飞行时间质谱仪测量的离子信号强度与先前存储的阈值进行比较，从而对具有已知质量数的离子进行频率分量w的校准。 因此，可以实现对离子阱和TOF中的每一个的观测质量的校准。 |
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