用于确定光学介质的折射率的方法和显微镜
 
DE102018126002  2018-10-19  发明申请

2020-4-23
 
  一种用于确定显微镜(10)中光学介质的折射率的方法, 和78),其具有面对样品空间(12)的透镜(14), 其中具有待确定的折射率的光学介质是两种光学介质(26)中的一种, 28),其在样品空间(14)中邻接顶部或支撑玻璃(16)的两个相对表面(64,68),从而形成两个与物镜(12)相距不同距离的部分反射边界表面。 在该方法中, 测量光束(34)由透镜(12)偏转,斜入射到顶玻璃或载玻片(16)上, 通过由透镜54b分别接收两个反射光束(34),(54a)而产生两个空间上分开的反射光束(54a,54b),并将其引导到位置敏感检测器(60)(12)上。 两个反射光束(54a,54b)的强度由位置敏感检测器(36)检测,并基于检测到的两个反射光束(54a,54b)的强度计算光学介质的折射率。
 
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