| 质谱分析方法。 |
| WOJP10065016 2010-9-2 发明申请 |
| 2011-3-10 |
| 本发明公开了一种质谱的方法，其是适用于通常采用的矩阵，可以提高所述离子产量或电离一待测分子的效率，并能提供高度可靠的化学结构数据通过提高所述的电离效率或使用一种样品的测量再现性，即使在该情况下在一较小的量。具体地公开了一种质谱的方法，其特征在于，包括 : 一板在其上设置一个起始点所述矩阵的晶体开始淀积; 将一样品，其包含一待测分子，在一个与所述启动区域是在接触点，然后将基质溶液，或将该待测样品含有所述分子和所述矩阵溶液在相同的时间; 干燥所述矩阵液，从而允许所述沉积的晶体，从所述起始点，在该区域被在触点与所述起始点; 和然后获取一个信号从所述周围区域的所述起始点。 |
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