| 质量光谱仪 |
| JP2004256455 2004-9-3 发明申请 |
| 2006-3-16 |
| 要解决的问题 : 以提供一种质谱分析技术，通过缩短所需的时间是高度敏感，用于放电的所有所述的离子累积在一个中的线性离子阱质谱仪进行时间--飞行的测量通过脉冲放电的离子从所述的线性离子阱部的部分。溶液 : 当所述的离子累积在所述的线性离子阱被通过一个小脉冲放电量和所述排出离子脉冲具有达到一正交的加速部4的时间--航班类型的质谱分析部分，和同时脉冲的放电所述质量光谱仪，其具有结构中的离子被重复，以测量所述时间--飞行通过施加加速电压的脉冲以该正交的加速部4，所述的线性离子阱内的离子密度是通过逐渐保持提升入口侧的电位透镜电极1构成所述的线性离子阱，并通过缩短所述长度的所述一个势阱的底部侧部在所述的内部分所述的线性离子阱。通过这，由于质量分析所述的线性离子阱中所述的离子累积时间被缩短，离子的利用率速率被提高，和作为结果，该质量光谱仪所述的检测灵敏度被提高。版权 : (C)2006，膜℃。 |
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