质谱方法和离子解离装置
 
WOJP10062207  2010-7-21  发明申请

2011-1-27
 
  本发明公开了一种质谱的方法,其中一种物质有关的信息到所述的结构可以获得在一个改进的效率和所需要的时间用于测量和识别所述物质可以被缩短。具体地公开了一种质谱的方法,其特征在于,包括,所述的过程中的离子解离的质谱中; 比较所述反应之前所测量的离子的量与所述解离之后所测量的离子的量和因此估计所述最佳离子解离的强度。
 
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