| 装置用于进行电离解吸 |
| GB1003331 2010-2-26 发明申请 |
| 2010-6-9 |
| 一种装置，用于所展示的含水试样用于分析通过解吸电离，例如MALDI或Q-TOF，包括一种半导体晶片主体12包括一第一表面13和多个第二表面14，其是通过第一包围表面，其中第二表面形成由部分第一表面的破坏。第二的表面是更亲水比第一的表面，和第一的表面是多种疏水性比第二的表面，因而在应用含水样品以第一的表面，该样品在第二的表面是朝向和浓缩。第二的表面可以通过臭氧氧化，和可以通过热处理形成的，化学或酶处理，或优选地，激光烧蚀。第一的表面可以被官能化与一种硅烷，优选(tridecafluoro-1，1，2，2-tetrahydrooctyl)二甲基氯硅烷，和第二的表面可以与一个氢原子或羟基官能化的部分。 |
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