| 用于确定显微镜中光学介质的折射率的方法和显微镜 |
| WOEP19078350 2019-10-18 发明申请 |
| 2020-4-23 |
| 本发明涉及一种用于确定显微镜(10)中的光学介质(26)的折射率的方法， 74)， 其具有面对样品室(14)的物镜(12)， 其中光学介质(26)形成部分反射的边界表面， 并且其中至少一个第一测量光束(35a)和第二测量光束(35b)依次产生， 其中第一测量光束(35a)和第二测量光束(35b)彼此具有不同的偏振状态， 第一测量光束(35a)和第二测量光束(35b)分别由物镜(12)在倾斜入射到盖片(24)上时偏转， 两个反射光束(54a， 产生其中第一测量光束(35a)和第二测量光束(35b)各自在边界表面上部分反射的光束(54b)， 第一反射光束和第二反射光束(54a)， 54b)分别被物镜(12)接收并偏转到检测器(60)上， 第一反射光束(54a)和第二反射光束(54b)的强度由检测器(60)检测， 并且基于检测到的第一反射光束(54a)和第二反射光束(54b)的强度来确定光学介质的折射率。 |
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