| 电离衬底用于质量分析和质量分析仪 |
| JP2005013433 2005-1-21 发明申请 |
| 2006-8-3 |
| 要解决的问题 : 以提供一种用于激光解吸电离质量分析样品衬底和软LDI-MS测量其使所述准确测量在不形成阻塞的峰值在该时间与一激光束照射，所述均匀涂层的所述样品的样品在所生产的时间和所述促进的测量后洗涤，和一种测量仪器使用它。溶液 : 作为电离介质用于吸收激光解吸电离质量分析中使用的激光束，一热电元件被使用。所述热电元件使用一种铁电元件，一种晶体元件或所述特定的单晶具有一光滑的表面所述结晶的元件。版权 : (C)2006，膜℃。 |
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