激光系统,用于所述的一种样品由基质-辅助激光解吸电离质谱分析中
 
GB0602653  2006-2-9  发明申请

2006-3-22
 
  本发明涉及一种激光系统,用于所述的一种样品由基质-辅助激光解吸离子化在质量spectrometric分析。本发明是由在提供一种可调激光系统,其中,在一个设定,产生一个单强度峰。在所述样品和,在另一设定,一种多个的强度峰,与所述的半-宽度,强度,空间布置和\/或所述单强度的空间调制的程度被可调峰和\/或所述强度峰。
 
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