| 双向质谱系统 |
| US11816899 2006-2-28 发明授权 |
| 2010-10-19 |
| 本发明涉及一种用于质谱分析的系统和方法(100)，其允许带电粒子的集合双向引入到质谱仪的磁场中。 更具体地，本发明包括具有圆柱形磁体(101)的质谱系统(100)(例如FTMS质谱仪)，圆柱形磁体(101)被配置成接收和测量从圆柱形磁体(101)的两个轴向端中的任一个引入(102、103)到圆柱形磁体(101)中的带电粒子的回旋频率(104)。 本发明的方法涉及对从圆柱形磁体(101)的相对轴向端连续地、同时地或同时地引入(102、103)到圆柱形磁体(101)中的带电粒子集合进行质谱分析。 本发明通过允许在与第二检测器相反的方向上流动，例如在第一检测器的离子处理时间期间，显示出相对于当前可用的装置显著增加的磁体吞吐量。 |
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