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吸附,检测,和识别环境空气的成分的硅上具有解吸\/电离质谱法(dios-MS)
WOUS04003719 2004-2-9 发明申请
2005-3-31
本发明提供了一种装置,系统,和相关联的方法,以主动或被动样品空气通过引导到所述表面的一多孔的光吸收半导体,例如,一个多孔硅上解吸\/电离(“dios”)芯片。在吸附的一种分析物,该表面可以被分析直接通过激光解吸\/电离的时间--飞行质谱分析。由于所述的激光解吸\/电离过程和随后的质量检测不要求升高的温度下,分析物的热降解为避免。
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