| 在扫描探针显微镜技术中进行测量的方法 |
| PL42745118 2018-10-18 发明申请 |
| 2020-4-20 |
| 斯波波布Przeprowadzania Pomiarow W技术Skaningowej MikroskopiBliskich Oddziajcharakteryzuje Sitym，E Obejmuje Kroki W Krametalu : Umieszzsi(104)W Komorze Mikraskopu Noju Dwlachetnego I Drugprzznazzonopu WykonujeSi(105)FunkcjonalizacjostrzaPomiaRowegoZa PomocpierwszejProbki； Przeprowadza si(106)Pomiar Powierzchni Drugiej Pronbki Za Pomocsfunkcjonalizowanego Ostrza Pomiarowego。 |
微信公众号