| 质量stectrometer |
| GB0523811 2005-11-23 发明申请 |
| 2006-1-4 |
| 本发明公开了一种质谱仪和质谱分析方法，所述电子碰撞解离(ECD)，在电子转运裂解，表面诱导解离(SID)，或其它类型的碎裂/反应的高之间反复切换装置分片和分片低。母体或前体离子从第一样品通过所述装置和子/父/前体离子质谱片段/加合物/产品离子质谱获取。前体或母离子从样品被传送通过装置第二和第二组前体/母离子质谱和产品//片/子离子质谱得到的加合物。所述质谱进行比较，并且如果某些母体离子或碎裂的两个样品中的离子表示不同于试图进行进一步的分析识别中不同地表示的离子两个不同的样品。 |
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