| 具有改进的装置和方法的灵敏度和占空周期 |
| EP06001534 2006-1-25 发明申请 |
| 2006-9-20 |
| 本发明涉及一种用于提供改进的装置和方法的灵敏度和质谱中的占空周期系统。本发明所述的质谱分析系统包括一个电离源，一个质量分析器\/滤波器和一个离子检测器。所述质量分析仪具有一个第一捕集部，一第二捕集部和一选通部分之间插入所述第一陷入部分和第二捕集部。该装置可以进一步包括一个或多个透镜相邻的所述选通或捕集部分。本发明还提供了一种离子阱。所述本发明的具有一第一离子阱捕集部，一第二捕集部和一选通部分第一之间插入陷部分和第二陷入部分。所述选通和捕集段可以被在线性排列。本发明是一种关于所述的应用方法还描述了。用于实例，本发明所述的方法，包括电离的样品，陷入中的离子捕集部，选择使用一选通部分和离子捕获在一第二离子捕集部。 |
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