| 在质谱仪中缩放强度数据的方法和装置 |
| US11800150 2007-5-4 发明申请 |
| 2008-11-6 |
| 一种方法，包括 : 在时间间隔内在离子阱中累积具有多个m/z值的离子； 从累积的离子导出每个m/z值的相应强度值； 以及根据离子阱开始收集具有相应m/z值的离子所需的时间来调整每个强度值。 根据不同的方面，一种装置包括具有离子阱的第一部分和第二部分。 所述第二部分使所述离子阱在一个时间间隔内积聚具有多个m/z值的离子， 从离子阱中的累积离子导出每个m/z值的相应强度值，并根据离子阱开始收集具有相应m/z值的离子所需的时间来调整每个强度值。 |
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