| 分光镜的质量 |
| JP2008075367 2008-3-24 发明申请 |
| 2009-10-8 |
| 要解决的问题 : 以提供一分光镜的质量能够高度准确地和有效地进行质谱分析的一种的材料以一种简单的结构中被测量。溶液 : 所述质量分析装置包括 : 一装置，用于质谱分析，其具有一其上表面一金属体能够激励的等离子体通过与一激光束照射被形成，并且把所述待测材料到所述表面; 一个光照射装置照射所述表面的所述装置，用于质谱与一激光束，从而电离一种测量样品粘附到该表面和解吸它从所述表面; 和一个检测装置，其检测所述所测量的质量所测量的样品从飞行的时间试样，从所述的表面解吸所述用于质量光谱测定法，然后离子化装置，其中所述光照射装置具有一偏振的光-调节机构，其中调整所述激光束的偏振方向，从而解决该问题。版权 : (C)2010，inpit |
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