| 质量分离器和离子阱的设计方法，质量分离器和离子阱的制造方法。 质谱仪，离子阱和分析样品的方法 |
| US10537019 2005-6-1 发明申请 |
| 2006-7-27 |
| 在一个实施例中，提供了用于从一系列质量分离器电场数据中设计质量分离器的过程，以及用于从一系列数据对和质量分析器规模中设计离子阱的过程。 本发明还提供了用于生产包括具有约0.84至约1.2的ZO/RO比的离子阱的质量分离器的方法。 也提供了质谱仪，其可以包括串联的质谱仪，其中一个质谱仪是具有在0.84和1.2之间的Zo/Ro比的离子阱。 本发明也提供了使用质量分离器分析样品的方法，所述质量分离器具有限定体积的第一和第二组组分，所述体积的中心到第一组分的表面的距离与体积的中心到第二组分的表面的距离之比在0.84和1.2之间。 |
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