| 离子阱质谱仪 |
| WOJP08000098 2008-1-28 发明申请 |
| 2009-8-6 |
| 各种离子被俘获在后一种离子阱(1)，一宽频带电压具有一凹口与一预定频率端盖之间的宽度被施加电极(12，13)以除去从其质量的离子具有相对大的差异所述目标的一短时间中的离子。这种去除后，所述目标离子和离子具有所述目标离子的质量块附近的所述的质量是左在所述离子阱(1)。各物质的不想要的离子不去除所述先前处理中被处理为目标离子和去除由施加一对应的正弦波电压到每个所述端帽电极之间的物质(12，13)。因此，仅所述目标所述离子阱中离子被最后左(1)。通过解理，产品离子被产生和进行质谱分析。在这种方式，所述目标离子可以快速选择与高精度和分辨率。 |
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