| 离子阱/飞行时间质谱仪和测量离子精确质量的方法 |
| US11128261 2005-5-13 发明申请 |
| 2005-11-17 |
| 一种离子阱/飞行时间质谱仪，其能够基于MS/MS和MSN对产物离子进行精确的质量测量，该离子阱/飞行时间质谱仪具有用于电离样品的离子源，能够暂时俘获离子的离子阱和飞行时间质谱仪。 所述离子源产生样品的离子作为测量目标和参考样品的离子，每个参考样品具有已知的质量值。 从测量目标样品的离子中选择前体离子，并且所选择的前体离子在离子阱中被激发和碎裂以产生产物离子。 参比样品离子被引入并俘获在离子阱中。 捕获的产物离子和参考样品离子被排出离子阱并引入飞行时间质谱仪，从而获得质谱。 |
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