| 用于MALDI-TOF质谱分析的真空外壳系统 |
| US11742679 2007-5-1 发明申请 |
| 2008-11-6 |
| 本发明涉及用于MALDI-TOF质谱分析的离子源和真空外壳，该MALDI-TOF质谱分析用任何类型的质量分析器操作，包括线性，反射器或串联TOF-TOF仪器。 通过消除对真空锁的要求，本发明允许离子源真空室在比常规仪器高至少两个数量级的压力下操作。 本发明也只需要一个将离子源真空外壳与TOF分析仪真空外壳隔离开的阀。 与现有技术中阀开口必须足够大以允许样品板通过的真空锁相比，这是一个显著的改进。 |
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