| 精度质量的测量方法，通过离子阱\/时间--飞行质谱仪 |
| JP2003426102 2003-12-24 发明申请 |
| 2005-7-7 |
| 要解决的问题 : 以提供一种方法用于精度产品的质量测量样品的离子。溶液 : 该离子阱精度质量的测量方法-TOF\/μS包括一步骤所产生的离子的样品被测量和一个参考材料; 一个步骤的导向和陷入所述两个所述待测样品的离子和所述参考材料在一种离子阱; 一步骤选择的前体离子从所述的离子所述待测样品之间和之外的其它离子，除了所述前体离子和所述的离子所述参考材料在所述离子阱; 一种STAP-A励磁和使所述前体离子的解理，以产生产品离子; 一个步骤的排出所述前体离子，它们的产品离子，所述参考材料和所述的离子俘获在该离子阱从所述的离子阱和引导它们以一个时间--飞行质谱仪; 和一步骤的质量光谱测定所述时间--飞行的质量光谱仪中。所述的基础上所测量的离子所述参考材料，所述的校正精度的质量所述产品离子被导通。 |
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