| 离子阱中的高Q脉冲碎裂 |
| US11662693 2005-9-12 发明授权 |
| 2009-5-5 |
| 一种用于质谱仪的离子阱(104)，包括用于向多个电极(102)中的至少一个施加RF俘获电压的RF俘获电压源(112)， 所述离子阱(104)的106, 110)以俘获所述离子阱(104)中的至少一部分离子； 共振激励电压源(114)，用于向电极(102, 106, 110)施加共振激励电压脉冲，以使所选离子组的至少一部分经历碰撞并破碎成离子碎片； 以及计算机(116)，用于控制RF俘获电压源(112)以在谐振激励电压脉冲终止之后的预定延迟周期之后将RF俘获电压降低到第二幅度，用于将低质量离子碎片保留在离子阱(104)中以供以后分析。 |
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