| 同位素比使用等离子体离子源极质量分析仪分析 |
| JP2003163454 2003-6-9 发明申请 |
| 2004-12-24 |
| 要解决的问题 : 以精确地一等离子体离子源中的正确的同位素比率质谱分析，其中一个四重质量光谱仪(qms)，如三-维dqms四极质谱仪(3a)，被安装到一个质量分析仪部分。溶液 : 所述等离子体离子源极质量分析仪进行测量，通过使用该四极质谱仪(qms)，如所述三-维四极质谱仪(3adqms)，用于通过使用ICP质量分析仪部分或所述的MIP，和其它离子源，用于所述离子源。至少两个标准物质，具有不同的同位素比率，被用于获得所述理论值到所述测量用于每个用于一个屏幕上显示的同位素比率值，所述插值它们的两者之间的关系表达式是显示在该屏幕，一个用于测量被测样品的测量值，该同位素和所述的校正值比所述屏幕上指示的是从所测量的测量值和所述内插关系。 |
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