| 八极离子阱质谱计及其相关方法 |
| US11579569 2005-5-4 发明申请 |
| 2008-5-15 |
| 八极离子阱质谱计及其相关方法 根据一个实施例的质谱仪可以包括第一端盖电极和第二端盖电极、第一外环电极和第二外环电极以及中心环电极。 第一外环电极可以位于第一端盖电极的下游。 中心环电极可以位于第一外环电极的下游。 第二外环电极可以位于中心环电极的下游。 第二端盖电极可以位于第二外环电极的下游。 质谱仪还可包括射频(RF)信号源，其可操作以将RF信号施加到第一和第二外环电极，从而产生用于捕获带电粒子的基本八极场。 |
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