质谱仪及其使用方法
 
US10750915  2004-1-5  发明申请

2004-8-26
 
  公开了一种非同轴地组合离子阱和TOFMS的质谱仪,其中可以最大化离子阱效率,质量分辨率和CID效率。 本发明涉及一种离子阱与TOFM非同轴结合的质谱仪, 具有设置在离子源和离子阱之间的质量过滤器和用于独立地控制离子阱内的气体压力和质量过滤器内的气体压力的控制器, 其中离子阱中的气体压力被设置为高于质量过滤器中的气体压力。
 
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