| 分析系统检测粒子尺寸和荧光 |
| WOUS03019840 2003-6-24 发明申请 |
| 2003-12-31 |
| 颗粒与荧光检测被公开分析系统，主要基于散射光强度与颗粒尺寸在连接或时间--飞行的测量。在一个系统，发射荧光是作为一个阈值的用于选择颗粒用于进一步分析，E。G。质谱分析。在另一实施例中，依次排列的激光束沿一气溶胶路径被有选择地接通和关断，以增加所述有用的部件的寿命，并减少该电位用于几个信号之间的干扰。其它实施例有利地使用颜色判别在空气动力学粒子尺寸，单两个散射检测器设置为感测和发射荧光辐射，和激光束的幅值或增益控制，以增强所述范围的荧光检测。 |
微信公众号