使用质谱法定量分析表面衍生的样品
 
US11744513  2007-5-4  发明申请

2007-11-8
 
  引入内标的底物便于通过表面询问质谱技术定量样品中的分析物,而无需湿化学样品制备。 使用者将待分析的样品放置到预处理的基片的表面上。 然后,对于每个要定量的分析物引入内标的带有样品的固体基质准备好进行询问。
 
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