质量光谱仪
 
EP03011628  2003-5-22  发明申请

2003-12-3
 
  重离子被喷射的较早的比光依次在几乎零能量离子和它们被加速,在一固定电压,从而被引导到一推块(6)的TOF光谱仪。离子被弹出后一过程中给出的电场梯度以一种离子阱和线性降低其RF电压,一条件空间上聚焦的离子具有一个单点的所有质量号在所述推杆(6)被发现。该聚焦的离子被垂直加速使用所述推杆(6),以执行所述TOF质谱分析。
 
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