| 检测器的X-辐射或γ |
| FR07001032 2007-2-13 发明申请 |
| 2008-8-15 |
| 本发明涉及所述检测器用于所述放射成像，和更具体地，所述矩阵的X-射线检测器，进行在所形成的一个像素的矩阵的技术CMOS，具有一个相关联的结构的X-射线转换成电子。每个像素包括一个读出电路包括在所述一个手一比较器(COMP1)的摆动在每个到达一负载产生的增量从所述集成的一个充电电流产生的照明和在所述其它手一个电路的计数(cpt1，cpt2)到所述比较器的计数数目的摆动。每个像素的所述读出电路包括一个电路的分析所述的速率的所述的摆动(cmc)所述比较器，该计数电路读出所述的电路上的作用，以根据所述的结果修改其操作所分析的速率。例如，所述读出电路开关所计数的脉冲朝向一个表(cpt1)或另一个(cpt2)根据该所分析的结果。特别涉及放射学中应用双-光子的能量和所述的质谱分析冲击X。 |
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