| 质量分析系统 |
| JP2007004975 2007-1-12 发明申请 |
| 2008-7-24 |
| 要解决的问题：提供一种质量分析系统，其能够分析包含在样品中的痕量组分，而不必重新测量和延长每个分析情况下的离子的分析时间。 解决方案：在串联型质量分析系统中，当从MS1质谱的峰离子中选择用于MS2质量分析的母离子的候选，并且选择未存储在数据库中的组分或存储在数据库中但在具有预定数目N或更大的分子排列中未被识别的组分作为母离子时，搜索数据库，并且进行MS2质量分析，直到识别出预定数目N或更大的分子行， 相对于所选择的母离子。 版权：(C)2008, JPO&INPIT |
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