| 样品引入装置 |
| JP2006350324 2006-12-26 发明申请 |
| 2008-7-10 |
| 要解决的问题 : 以提供一样品用于引入样品导入装置能够进行的基本分析具有高灵敏度，由一种元素分析仪，如ICP质量光谱仪和ICP发光分光光度计。溶液 : 一红外线照射装置5用于发射红外射线到一喷雾器的雾化端口2到该样品的热量被设置在该样品引入本发明的装置构成雾化所述样品雾-可能为一旋风室1通过喷雾器2，和以引入所述的样品从进料口11所述旋风室1到一个等离子炬或所述元件的分析器等。一气体供应管41用于提供一种载体气体到所述喷雾器2被加热通过一加热部分42，和一冷却部46冷却进料管12和一个连通导入管46与所述所述旋风室1的进料口11。一由所述喷雾器2所述样品的雾化粒子尺寸是通过这种方式降低，和仅所述降低颗粒尺寸的样品被引入到所述等离子体炬。版权 : (C)2008，inpit |
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