| 使用扫描探针技术局部高分辨率的质谱仪表征表面的方法 |
| CN03822735.5 2003-7-24 发明申请 |
| 2005-10-19 |
| 本发明涉及一种组合方法，其中使用扫描强力显 微镜记录样品表面的高分辨率再现，并用质谱测量样品表面的 局部高分辨的化学属性(所述属性与再现相关)。在有限的表面 区域的激光解吸之后，进行表面的化学分析。为实现此解吸， 根据光学近场原理在每个相关的点以脉冲形式照明表面。光学 近场原理确保以没有衍射限制的局部解析的分析。所用的测量 探针的中空触点可使得对所选的表面区域具有唯一的化学分 析配置。高度对称排列使得产生的分子离子良好传输。 |
微信公众号